影響涂層測厚儀測量的因素

? ?磁性法涂層測厚儀測量涂層厚度受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可認為是輕微的）；

2. ? ? ? 為了避免熱處理和冷加工因素的影響，超聲波測厚儀，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；

3. ? ? ? 基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成份及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；

4. ? ? ? 每一種涂層測厚儀都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響；

5. ? ? ? 對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的；試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的；

6. ? ? ? 探頭會使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數據；

7. ? ? ? 基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，油漆測厚儀，影響增大，粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同的位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點，或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對儀器的零點；

8. ? ? ? 周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重干擾磁性測厚工作；

9. ? ? ? 那些妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達到的測量。

涂層測厚儀技術參數：

1. ? ?測量原理：磁感應（F探頭）；渦流效應（N探頭）

2. ? ?測量范圍：0~1300um

3. ? ?測量誤差：± (讀數的3%+2um);

4. ? ?精度：0um~999um (1um)， 1000um~1300um (0.01mm);

5. ? ?校準：零點校準，重慶測厚儀，并支持較多4點校準

6. ? ?數據存儲與分組：一個直接組（數據不保存）和四個通用組（數據可被保存），每組有單獨的統計，報警上下限設置和校準設置。

7. ? ?統計值：支持平均值、小值、大值和標準方差。

8. ? ?支持單位：um， mm， mils

9. ? ?報警：用戶可設置上下報警限，當發生報警時，液晶屏幕可顯示提示。

10. 曲率半徑：凸1.5mm，凹25mm

11. 測量面積：直徑6mm

12. 基材厚度：0.5mm（F探頭）；0.3mm（N探頭）

13. 電腦接口：可通過USB口連接計算機下載數據

14. 電源：兩節1.5V AAA電池

15. 操作溫度：0~40℃

16. 保存溫度：--20℃to70℃

17. 尺寸：110mm*53mm*24mm

18. 重量：92g

19. 可選：A(一體)和B（分體）。

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